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根據鉑電阻溫度計元件，就能解釋電阻溫度系數的變化，(這種解釋對厚膜和薄膜鉑電限溫度計元件也同樣適合）假設芯棒和鉑絲上面的覆蓋層具有同樣的熱膨脹系數。形成連續的、無空隙及無裂縫的基體。鉑絲則埋在里面。鉑電阻溫度計元件通常用冷拉鉑絲繞成。使用之前，元件加熱至400℃以上的某個溫度，讓鉑絲退火.在退火溫度，鉑絲內部的應力在理論上降到零。元件的鉑趁埋存氧化鋁中，氣化鋁的熱膨脹系數比鉑小.當元件從退火渴度冷卻時，由于陶瓷基體的妨礙，鉑絲的收縮要比正常情況小。這就存鉑絲中產生張應力，這種張應力是隨溫度下降而增大的。由千拉伸應變造成電阻增加，所以元件冷卻時電阻的下降不象無應變的鉑絲那么多，因而a值較低。相反，要是包圍鉑絲的陶瓷基體具有比怕高的熱膨脹系數，冷卻時鉑妊就要受壓，產生的a值就比無應變的鉑高。
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